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ASI J200 TANDEM 复合系统
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ASI J200 TANDEM 复合系统
(Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS)相融合, 研发了J200系列激光剥蚀进样系统及光谱分析系统。 J200 纳秒激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合
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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统
Vanquish™ Duo UHPLC 系统货号: VQDUO-TANDEMThermo Scientific™ Vanquish™ Duo UHPLC 系统将两套梯度流路整合在一个集成 UHPLC
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J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法
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J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法,能瞬时
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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统 适用于双 LC 的 Vanquish Duo
Vanquish™ Duo UHPLC 系统货号: VQDUO-TANDEM支持四种工作流程。两套流路。同一集成式系统。增加样品通量节省宝贵的工作台操作空间增强定性、定量样品信息减少每份样品的成本
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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统 适用于反向梯度 LC 的 Vanquish Duo
Vanquish™ Duo UHPLC 系统货号: VQDUO-TANDEM适用于 双 LC-MS 的 Vanquish Duo使用适合双 LC-MS 的 Vanquish Duo 可使 LC-MS
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J200飞秒激光剥蚀进样系统
J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统 适用于 双 LC-MS 的 Vanquish Duo
Vanquish™ Duo UHPLC 系统货号: VQDUO-TANDEM适用于反向梯度 LC 的 Vanquish Duo使用适合反向梯度的 Vanquish Duo 提高实验室定量检测能力
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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统 适用于串联 LC 或 LC-MS 的 Vanquish Duo
Vanquish™ Duo UHPLC 系统货号: VQDUO-TANDEM轻松提高生产率借助 Thermo Scientific™ Chromeleon™ 色谱数据系统 (CDS) 设置向导配合
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